Beschreibung
Elektronenstrahlmikrosonde JEOL JXA-8800L
- 4 wellenlängendispersive Johansson-Typ Kristallspektrometer
- 1 stickstoffreies, energiedispersives Spektrometer Bruker XFlash 5010
- präzise Probenbühne für max. 4″ Proben
- Detektoren für Material- und Topographiekontrast
Analytische Elektronenmikroskope mit energiedispersiven Spektrometern
- JEOL JSM-6700F mit Bruker XFlash 7
- Tescan LYRA XMU mit Bruker XFlash 7
- TEM Hitachi HT7820 mit Bruker XFlash 7
Angebot | Kontakt
Dr. Jan Dellith
Ihr Ansprechpartner für Material- und Mikrostrukturanalyse
Telefon: +49 (0) 3641 · 206-104
Email: jan.dellith@leibniz-ipht.de
