Hochauflösende Mikroskopie

Hochauflösende Raster-Elektronenmikroskopie (REM) im Nanometerbereich
- verschiedenen Abbildungsmodi zur Darstellung von Topographie und Materialkontrast
- Energiedispersive Röntgenspektrometer (EDX) für Analytik mit hoher Ortsauflösung
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) bis in den (sub) Nanometerbereich
- STEM für Hell- und Dunkelfeldabbildung
- Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX) für Analytik mit hoher Ortsauflösung
- Selected Area Blende und Beam-Stopper für Strukturuntersuchung mittels Elektronenbeugung
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
- verschiedene Abbildungs- und Kontrastmodi (Topographie, Phasenkontrast, Magnetic Force Microscopy)

Beschreibung

Rasterkraftmikroskopie (AFM; Bruker Dimension Edge u.a.)
Rasterelektronenmikroskopie (REM; FEI Helios Nanolab G3 UC, Jeol JSM-7900F,JEOL JSM-6700F, Tescan Lyra XMU)
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, Hitachi HT7820, JEOL JEM-1400)
Nano-Analytik (EDX) am REM und am TEM (Bruker XFlash 7)

Parameter