FIB/REM-Präparation und Strukturierung

Wir bieten ein breites Methodenspektrum zur Probenpräparation und Oberflächenstrukturierung

– Oberflächenstrukturierung mittels Ionenfeinstrahl (FIB; Ga+)

– Oberflächenpolitur mittels Ionen (Ar+)

– Präparation von Querschnitten (Ga-FIB und Ar-Cross Section Polisher)

– Hochvakuumverdampfen (Kohlenstoff, diverse Metalle)

– Sputtern (diverse Metalle)